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    测厚仪 ZM100测透明薄膜的厚度
   
    本文介绍的ZLDS10X系列激光位移传感器的测厚应用主要讲述的是在电气电子行业的应用，更具体一点来说，是在电极板测厚方面的应用。
   
    ZTMS08测厚仪配有各种结果数字实时显示方式，以及智能监控和声光报警，方便作业人员的监控和生产工作。测量结果可以转化成图像显示出来，方便工人观看。
   
   
    我们推荐使用的测厚仪为ZLDS10X系列。它包含ZLDS100、ZLDS101、ZLDS102等多个型号的不同款传感器，且能根据客户具体需求定制，是一款非常不错的能组成在线测厚系统的激光位移传感器。
   
    客户需求：测透明薄膜的厚度
    量程：1-3mm
    测量方案：采用ZM100激光测径仪检测：将薄膜套在标准轴上，通过测标准轴和套薄膜的标准轴的直径，间接检测薄膜的厚度。精度5um.。
    检测方法如图所示：
   
    测厚仪应用领域
    可用于物体尺寸的非接触测量与控制，如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等。有效降低了生产后的单件检验成本，并能有效节省原物料的损耗，降低人员需求。
   
    测厚仪主要特点
    高精度：最高线性度5um；
    量程范围广：可测500mm外径的物体（可根据实际情况定制更大外径型号）；
    支持多个传感器同步采集（确保工业在线高精度差动测厚）；
    可以对操作系统实施不同的参数设置，改变测量方式；
    在PC上十分直观的显示出测量值，方便对测量过程实施监控；
    采用半导体激光器发射的激光（波长660nm）作为探测信号，抗干扰能力强；
    系统带有额外的四条输出信号，带负载能力强；
   
   
   
   
   
   
    详情请访问：
    http://www.51sensors.com/prod_detail_1273.html
    http://www.51sensors.com
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